HOME > 口頭発表 > 書誌詳細LSCO 固有ジョセフソン接合における脱出確率の接合数依存性(Stacking Layer Number Dependence of Escape Rate in Intrinsic Josephson Junctions of La2-xSrxCuO4)久保 結丸, 田中 孝尚, 上田真也, 石井 聡, 津田 俊輔, 山口 尚秀, A.T.M.N. Islam, 田中功, 高野 義彦. 日本物理学会2008年秋季大会. 2008.NIMS著者津田 俊輔山口 尚秀高野 義彦Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:51:31 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:19:00 +0900