HOME > 口頭発表 > 書誌詳細単一分子ワイヤの抵抗率測定(Resistivity measurement of individual molecular wire)若山 裕, 早川 竜馬, 知京 豊裕, 町田 真一, 中山 知信, エガー ステェファン, 小林健二. 第69回応用物理学会学術講演会. 2008.NIMS著者若山 裕早川 竜馬知京 豊裕中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:28:05 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:17:32 +0900