In-situ Measurement of Light Emission by Negative Cu Ion Implantation in Silica Glass
(石英基板へ負Cuイオン照射中に発生する発光のその場測定)
5th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF-5). 2000年03月06日-2000年03月09日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:02:18 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:02:18 +0900