HOME > 口頭発表 > 書誌詳細陽子照射されたn-Si中の格子間型欠陥生成への酸素の影響(Study of oxygen effects on interstitial type defects in proton-irradiated n-Si)河野 健一郎, 雨倉 宏, 岸本 直樹. 2001年(平成13年)秋期第62回応用物理学会学術講演会. 2001年09月11日-2001年09月14日.NIMS著者河野 健一郎雨倉 宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:27:41 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:19:03 +0900