HOME > 口頭発表 > 書誌詳細AlInGaN/GaNのHAADF-STEMと電子線ホログラフィーによる評価竹口 雅樹, 奥野 華子, 色川 芳宏, 佐久間 芳樹, 古屋 一夫. 日本顕微鏡学会第64回学術講演会. 2008.NIMS著者竹口 雅樹色川 芳宏佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:42:19 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:12:01 +0900
