Establishment of thickness-controlled TEM lamella preparation method with minimized FIB-induced damage using FIB-SEM
The 21st International Microscopy Congress 2026 (IMC21). 2026年08月31日-2026年09月04日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2026-09-05 03:06:29 +0900 更新時刻: 2026-09-05 03:06:29 +0900