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著者名山下 良之.
タイトルHigh-k内の電圧依存ポテンシャルのオペランド光電子分光による直接観測
(Bias Dependent Potential of High-k Thin Films Obtained From Operando Photoelectron Spectroscopy )
会議名第25回日本MRS年次大会
発表年2015
言語Japanese
外部での文献参照

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