High-k内の電圧依存ポテンシャルのオペランド光電子分光による直接観測
(Bias Dependent Potential of High-k Thin Films Obtained From Operando Photoelectron Spectroscopy )
第25回日本MRS年次大会. 2015.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 10:56:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:18:07 +0900