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High-k内の電圧依存ポテンシャルのオペランド光電子分光による直接観測
(Bias Dependent Potential of High-k Thin Films Obtained From Operando Photoelectron Spectroscopy )
第25回日本MRS年次大会. 2015.
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2017-02-14 10:56:30 +0900Updated at: 2017-07-10 22:18:07 +0900