Excited Conductivity and Defect Formation in Photo Conductivity-type Si Sensor Under Particle Irradiation
(粒子線照射下における光伝導型Siセンサーの励起電気伝導と欠陥生成)
日本MRSシンポジウム. 1996年05月22日-1996年05月24日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 01:05:56 +0900 更新時刻: 2023-04-09 15:03:49 +0900