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(Mott Insulating State of Ultrathin Epitaxial LaNiO3 Thin Films Detected by Hard X-ray Photoemission)

A. X. Gray, A. Janotti, J. Son, J. M. LeBeau, 上田 茂典, 山下 良之, 小林 啓介, A. M. Kaiser, R. Sutarto, H. Wadati, G. A. Sawatzky, S. Stemmer, C. S. Fadley.
HAXPES 2011. 2011.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2017-02-14 11:03:17 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:07:56 +0900

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