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著者名陳 斌, 陳 君, 関口 隆史, Takasumi Ohyanagi, Hirofumi Matsuhata, Akimasa Kinoshita, Hajime Okumura.
タイトルElectrical property of stacking faults in 4H-SiC
会議名Annual Meeting - JSAP The 56th Spring Meeting
発表年2009
言語Japanese
外部での文献参照

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