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酸化中のシリコン表面応力と基板表面粗さとの関連
(The Effect of Substrate Roughness on Surface Stress in Vltrathin Oxide on Si)

板倉 明子, 成島哲也, 河辺隆也, 北島 正弘, 成島哲也, 河辺隆也.
第4回薄膜表面物理研究会. 1999年01月22日-1999年01月23日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-14 11:12:13 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:53:50 +0900

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