HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化中のシリコン表面応力と基板表面粗さとの関連(The Effect of Substrate Roughness on Surface Stress in Vltrathin Oxide on Si)板倉 明子, 成島哲也, 河辺隆也, 北島 正弘, 成島哲也, 河辺隆也. 第4回薄膜表面物理研究会. 1999年01月22日-1999年01月23日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:12:13 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:53:50 +0900