HOME > 口頭発表 > 詳細走査透過電子顕微鏡法(STEM)入門(Brief Introduction to Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM))著者木本 浩司, 吉川 純, コレツ オヴィヂュ, 柳澤 圭一, 石塚 和夫. 会議名日本顕微鏡学会第63回シンポジウム発表年2020言語Japanese
