HOME > Presentation > Detail走査透過電子顕微鏡法(STEM)入門(Brief Introduction to Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM))Author(s)木本 浩司, 吉川 純, コレツ オヴィヂュ, 柳澤 圭一, 石塚 和夫. Event name日本顕微鏡学会第63回シンポジウムYear of publication2020LanguageJapanese
