HOME > Presentation > Detail走査透過電子顕微鏡法(STEM)入門(Brief Introduction to Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM))木本 浩司, 吉川 純, コレツ オヴィヂュ, 柳澤 圭一, 石塚 和夫. 日本顕微鏡学会第63回シンポジウム. 2020. InvitedNIMS author(s)KIMOTO, KojiKIKKAWA, JunCRETU, OvidiuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2020-12-10 03:00:22 +0900Updated at: 2024-03-05 12:21:32 +0900