HOME > 口頭発表 > 書誌詳細0.1〜10 keVでエネルギー範囲で80度までの放出角度の条件下での光電子の平均脱出深さ(Mean escape depth for X-ray photoelectron spectroscopy in the kinetic energy region from 0.1 to 10 keV and in the emission angle region up to 80 degree)吉川 英樹, 田沼 繁夫. 7th International Symposium on Surface Science. 2014.NIMS著者吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:45:56 +0900更新時刻: 2018-05-21 21:39:34 +0900