HOME > 口頭発表 > 書誌詳細蛍光顕微鏡と2次イオン質量分析を用いたGaInN薄膜の不均一評価(Characterization of heterogeneity on GaInN films by fluorescence microscope and secondary ion mass spectrometry)豊満 直樹, サン リウエン, 本田徹, 角谷 正友. 2014年第61回応用物理学会春季学術講演会. 2014.NIMS著者サン リウエン角谷 正友Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:49:13 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:43:19 +0900