HOME > 口頭発表 > 詳細口頭発表の表示著者名豊満 直樹, サン リウエン, 本田徹, 角谷 正友. タイトル蛍光顕微鏡と2次イオン質量分析を用いたGaInN薄膜の不均一評価(Characterization of heterogeneity on GaInN films by fluorescence microscope and secondary ion mass spectrometry)会議名2014年第61回応用物理学会春季学術講演会発表年2014言語Japanese外部での文献参照
