X線回折における異常散乱現象を用いたZnO薄膜の極性判定
(Polarity determination of ZnO films by x-ray diffraction using anomalous dispersion)
応用物理学会2009年秋季第70回学術講演会. 2009年09月08日-2009年09月11日.
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作成時刻: 2017-02-14 10:59:06 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:34:11 +0900