HOME > 口頭発表 > 書誌詳細高分解能共焦点STEMのための2軸傾斜ステージ走査システムの開発(Development of double-tilt stage-scanning system for high resolution scannning confocal electron microscopy)竹口 雅樹, 橋本 綾子, 三石 和貴, 下条 雅幸, ジャン シャオビン. 平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー. 2009.NIMS著者竹口 雅樹橋本 綾子三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:04:26 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:39:47 +0900