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高分解能共焦点STEMのための2軸傾斜ステージ走査システムの開発
(Development of double-tilt stage-scanning system for high resolution scannning confocal electron microscopy)

竹口 雅樹, 橋本 綾子, 三石 和貴, 下条 雅幸, ジャン シャオビン.
平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー. 2009.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-02-14 11:04:26 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:39:47 +0900

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