Si(111)-4X1-In表面超構造の電気伝導測定
(ELECTRON TRANSPORT THROUGH THE Si(111)-4X1-In SURFACE RECONSTRUCTION)
7th International Conference on Nanometer-scale Science and Tech. 2002年06月24日-2002年06月28日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:08:08 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:24:34 +0900