(Optical sectioning and confocal microscopy in an aberration-corrected transmission electron microscope for three-dimensional imaging and analysis of materials)
International Symposium on Advanced Electron Microscopy. 2012年01月05日-2012年01月07日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:51:45 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:43:46 +0900