HOME > 口頭発表 > 書誌詳細AlOx薄膜の抵抗変化メモリ(ReRAM)とその特性評価(Resistive Random Access memory (ReRAM) of AlOx thin film and the characteristics)児子 精祐, 北澤 英明, 加藤 誠一, 木戸 義勇, 宇野義雄. 2007年春季第54回応用物理学関係連合講演会. 2007.NIMS著者北澤 英明加藤 誠一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:03:35 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:53:09 +0900