SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

AlOx薄膜の抵抗変化メモリ(ReRAM)とその特性評価
(Resistive Random Access memory (ReRAM) of AlOx thin film and the characteristics)

著者児子 精祐, 北澤 英明, 加藤 誠一, 木戸 義勇, 宇野義雄.
会議名2007年春季第54回応用物理学関係連合講演会
発表年2007
言語Japanese

▲ページトップへ移動