SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > Presentation > Detail

AlOx薄膜の抵抗変化メモリ(ReRAM)とその特性評価
(Resistive Random Access memory (ReRAM) of AlOx thin film and the characteristics)

児子 精祐, 北澤 英明, 加藤 誠一, 木戸 義勇, 宇野義雄.
2007年春季第54回応用物理学関係連合講演会. 2007.

NIMS author(s)


Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


    Created at: 2017-01-08 04:03:35 +0900Updated at: 2017-07-10 19:53:09 +0900

    ▲ Go to the top of this page