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AlOx薄膜の抵抗変化メモリ(ReRAM)とその特性評価
(Resistive Random Access memory (ReRAM) of AlOx thin film and the characteristics)

児子 精祐, 北澤 英明, 加藤 誠一, 木戸 義勇, 宇野義雄.
2007年春季第54回応用物理学関係連合講演会. March 27, 2007-March 30, 2007.

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    Created at: 2017-01-08 04:03:35 +0900 Updated at: 2017-07-10 19:53:09 +0900

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