Analytical STEM applying a superconductor Transition Edge Sensor type Microcalorimeter EDS for X-ray Nanoanalysis.
The 19th International Microscopy Congress (IMC19). 2018年09月09日-2018年09月14日.
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作成時刻: 2018-03-03 22:32:40 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:18:46 +0900