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NIMS一般公開2024

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Analytical STEM applying a superconductor Transition Edge Sensor type Microcalorimeter EDS for X-ray Nanoanalysis.

原 徹, 田中啓一, 前畑京介, 満田和久, 山中良浩, 日高睦夫, 中村邦康.
The 19th International Microscopy Congress (IMC19). 2018年09月09日-2018年09月14日.

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    作成時刻: 2018-03-03 22:32:40 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:18:46 +0900

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