HOME > 口頭発表 > 書誌詳細近接場光学顕微鏡によるナノイオニクス・へテロ界面の評価長田 実, 寺部 一弥, 長谷川 剛. 特定領域研究「ナノイオニクス」17年度キックオフ研究会. 2005.NIMS著者長田 実寺部 一弥Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:36:24 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:23:14 +0900
