HOME > Presentation > Detail近接場光学顕微鏡によるナノイオニクス・へテロ界面の評価長田 実, 寺部 一弥, 長谷川 剛. 特定領域研究「ナノイオニクス」17年度キックオフ研究会. July 01, 2005-July 02, 2005.NIMS author(s)OSADA, MinoruTERABE, KazuyaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:36:24 +0900Updated at: 2017-07-10 19:23:14 +0900