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「データ解析ソフトウェアCOMPROの新機能」―角度分解XPSを使った半導体バンド曲りの定量評価―
(New function of XPS and AES data analysis software COMPRO)

吉川 英樹, 吉原一紘, 田沼 繁夫.
第39回表面分析研究会. 2012.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-01-08 03:36:00 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:22:52 +0900

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