Evaluation of irradiation-induced deep levels in Si
(Si中の照射損傷による深い準位の評価)
SPIE 45th Annual Meeting (国際光学技術者連合第45回年大会）. 2000年07月30日-2000年08月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:03:38 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:03:38 +0900