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著者名渡辺 健太郎, 野久尾 毅, 陳 君, 関口 隆史.
タイトルプローブEBIC 法による異種基板上AlInAs/GaInAs界面電子チャネル構造の欠陥評価 チャネル構造の欠陥評価
(Probe-EBIC imaging of defects in AlInAs/GaInAs electron channel structures)
会議名日本顕微鏡学会 第68回学術講演会
発表年2012
言語Japanese
外部での文献参照

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