プローブEBIC 法による異種基板上AlInAs/GaInAs界面電子チャネル構造の欠陥評価 チャネル構造の欠陥評価
(Probe-EBIC imaging of defects in AlInAs/GaInAs electron channel structures)
日本顕微鏡学会 第68回学術講演会. 2012.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:23:53 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:19:47 +0900