縦型pinダイオードi層における電荷キャリア損失の評価
(Evaluation of charge loss of intrinsic-layer in diamond vertical pin diode)
第31回ダイヤモンドシンポジウム. 2017.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-10-04 22:12:38 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:13:43 +0900