HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(DC critical current of bent Ag-sheathed Bi-2223 oxide superconductor tapes)西島 元, 黒田 恒生, 北口 仁. IEC-TC90 meeting. 2012.NIMS著者西島 元北口 仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 05:23:48 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:26:32 +0900