HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Improvement in depth resolution of scanning confocal electron microscopy)X.Zhang, 竹口 雅樹, 橋本 綾子, 三石 和貴, 下条 雅幸. The 66th Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy. 2010.NIMS著者竹口 雅樹橋本 綾子三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:54:40 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:48:32 +0900