SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名山下 良之.
タイトルオペランド光電子分光法による極薄酸化膜/Si界面の界面準位測定
(Interface States at Ultrathin-oxide/Si Interface Obtained from Operando Photoelectron Spectroscopy )
会議名第25回日本MRS年次大会
発表年2015
言語Japanese
外部での文献参照

▲ページトップへ移動