HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Development of compact 4 probe AFM/KFM for investigation of electrical property in nanoscale新ヶ谷 義隆, 繆 滌 霏, 徐 建勛, クリーシー リアノン, 青野 正和, 中山 知信. 27th International Microprocesses and Nanotechnology Conference. 2014.NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:03:13 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:01:29 +0900