X線回折における異常散乱現象を用いたZnO薄膜の極性判定
(Polarity determination of ZnO films by x-ray diffraction using anomalous dispersion)
MRS 2009 Fall Meeting. 2009年11月30日-2009年12月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:09:35 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:34:13 +0900