HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Helium depth profile of low energy 4He implanted samples)K. Bajyo, 坂口 勲, T.Suzuki, S.Itose, M.Matsuya, M.Ishihara, K.Uchino, M.Kudo, H.Yurimoto. SISS-16. 2014.NIMS著者坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:54:22 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:56:20 +0900
