HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Electronic state analysis of graphene edges using scanning photoelectron microscopy under gate-controlled ultraviolet oxidizationNAGAMURA, Naoka, 今野隼, 松本守広, 小嗣真人, 尾嶋正治, 野内亮. THE 22ND INTERNATIONAL VACUUM CONGRESS(IVC-22). 2022年09月11日-2022年09月16日.NIMS著者永村 直佳Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-23 03:26:47 +0900更新時刻: 2022-11-23 03:26:47 +0900