放射光硬X線光電子分光を用いたITO/p-GaN界面の解析及びその電気特性
(Analysis of ITO/p-GaN interfaces by synchrotron radiation hard X-ray photoemission spectroscopy and their electrical characteristics)
秋季第68回応用物理学会. 2007.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 10:51:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:57:37 +0900