HOME > 口頭発表 > 書誌詳細TEM-CBED法を用いたAlNの極性決定評価(Polarity determination of AlN by convergent beam electron diffraction method based on transmission electron microscopy)井村 将隆, 小出 康夫, 中島 清美, 天野浩, 津田健治. 第31回電子材料シンポジウム. 2012年07月11日-2012年07月13日.NIMS著者井村 将隆小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:39:15 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:22:59 +0900