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TEM-CBED法を用いたAlNの極性決定評価
(Polarity determination of AlN by convergent beam electron diffraction method based on transmission electron microscopy)

井村 将隆, 小出 康夫, 中島 清美, 天野浩, 津田健治.
第31回電子材料シンポジウム. 2012年07月11日-2012年07月13日.

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    作成時刻: 2017-02-14 11:39:15 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:22:59 +0900

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