HOME > 口頭発表 > 書誌詳細2探針STMによる電気抵抗測定:ErSi2ナノワイヤおよび単層CNTへのナノコンタクト久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和. 2005年春季 第52回応用物理学関係連合講演会. 2005.NIMS著者新ヶ谷 義隆中山 知信青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:03:58 +0900更新時刻: 2018-05-30 19:30:06 +0900
