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2探針STMによる電気抵抗測定:ErSi2ナノワイヤおよび単層CNTへのナノコンタクト

著者久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和.
会議名2005年春季 第52回応用物理学関係連合講演会
発表年2005
言語Japanese

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