HOME > Presentation > Detail2探針STMによる電気抵抗測定:ErSi2ナノワイヤおよび単層CNTへのナノコンタクト久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和. 2005年春季 第52回応用物理学関係連合講演会. 2005.NIMS author(s)SHINGAYA, YoshitakaNAKAYAMA, TomonobuAONO, MasakazuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 05:03:58 +0900Updated at: 2018-05-30 19:30:06 +0900