HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Hard X-ray Photoemission Spectroscopy for Investigation of Defects in Oxide crystals and films大橋 直樹, 大澤 健男, 安達 裕, 坂口 勲, 松本 研司, 羽田 肇, 上田 茂典, 吉川 英樹, 小林 啓介. 6th Asian Meeting on Electroceramics. 2008年10月22日-2008年10月24日.NIMS著者大橋 直樹大澤 健男安達 裕坂口 勲羽田 肇上田 茂典吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:30:01 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:21:08 +0900