HOME > 口頭発表 > 詳細分子線酸素ビーム照射下その場観察XPSによる GaN表面酸化の面方位依存性著者浅井 祐哉, 関慶祐, 吉越章隆, 隅田真人, 上殿明良, 石垣 隆正, 角谷 正友. 会議名第79回応用物理学会秋季学術講演会発表年2018言語Japanese
