HOME > Presentation > Detail(X-ray Photoemission Spectroscopy of Wurtzite-type Semiconductors in Terms of Crystalline Polarity)ウィリアムズ ジェシー ロバート, 吉川 英樹, 山下 良之, 上田 茂典, 安達 裕, 小林 啓介, 大橋 直樹. STAC-5. June 22, 2011-June 24, 2011.NIMS author(s)YOSHIKAWA, HidekiYAMASHITA, YoshiyukiUEDA, ShigenoriADACHI, YutakaOHASHI, NaokiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:42:53 +0900 Updated at: 2017-07-10 21:05:54 +0900