HOME > 口頭発表 > 書誌詳細放射光硬X線光電子分光法によるPt/Nb:SrTiO3接合の電子状態評価(Hard x-ray photoemission spectroscopic investigation of Pt/Nb:SrTiO3)大橋 直樹, 廣瀬 左京, 吉川 英樹, 上田 茂典, 古田 朋大, 渡邉 賢, 李 建永, 坂口 勲. 第60回 応用物理学関係連合講演会. 2013年03月27日-2013年03月30日.NIMS著者大橋 直樹吉川 英樹上田 茂典坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:11:22 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:35:31 +0900