SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

Imaging holes in organic transistors by operando photoemission electron microscopy

福本 恵紀, YOSHIKAWA, Kosuke, 清水 好葉, Elizaveta Pyatenko, 山田 洋一, WAKAYAMA, Yutaka, HAYAKAWA, Ryoma.
The 15th International Conference on Optical Probes of Organic and Hybrid Semiconductors (OP 2025). 2025年09月21日-2025年09月26日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2025-10-22 03:10:37 +0900 更新時刻: 2025-10-22 03:10:37 +0900

    ▲ページトップへ移動