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(Determination of band offsets in complex oxide thin-film heterostructures by hard x-ray photoelectron spectroscopy)

G. Conti, A. X. Gray, A. M. Kaiser, A. Greer, J. Karel, 上田 茂典, 山下 良之, A. Gloskovskii, A. Jannotti, C. G. Van de Walle, 小林 啓介, W. Drube, S. Stemmer, C. S. Fadley.
HAXPES 2011. 2011年09月14日-2011年09月16日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-01-08 04:21:40 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:07:57 +0900

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