HOME > 口頭発表 > 書誌詳細hBN/WSe2の導電性AFMイメージングにおけるhBN膜厚の影響下村 侑生, 澤井 悠太, 榊原 涼太郎, 渡邊 賢司, 谷口 尚, 宮田 耕充. 2026年 第87回 応用物理学会 秋季学術講演会. 2026年09月08日-2026年09月11日.NIMS著者榊原 涼太郎渡邊 賢司谷口 尚宮田 耕充Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2026-10-28 03:07:21 +0900 更新時刻: 2026-10-28 03:07:21 +0900
