HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Application of Transition Edge Sensor as an X-ray spectrometer for Scanning Transmission Electron Microscope原 徹, 田中啓一, 前畑京介, 満田和久, 山中良浩, 日高睦夫. The 29th International Superconductivity Symposium (ISS2016) . 2016. 招待講演NIMS著者原 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 03:57:08 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:46:35 +0900