HOME > 口頭発表 > 詳細走査SQUID顕微鏡による酸化物超伝導薄膜中の磁束・電流・欠陥の評価手法(Characterization of Defects, Quantized Magnetic Flux and Shielding Current Flows in Oxide Superconducting Thin Films at One Time by Scanning SQUID Microscopy)著者有沢 俊一, ユン キョンソン, 井口 家成, 羽多野 毅, Kazuhiro Endo, Tamio Endo. 会議名2013 JSAP-MRS Joint Symposia発表年2013言語Japanese
