HOME > 口頭発表 > 書誌詳細分子線エピタキシー法により作製したScN薄膜のSc/N比依存性(Sc/N flux ratio dependence of the ScN films prepared by molecular beam epitaxy)大垣 武, 坂口 勲, 大橋 直樹, 羽田 肇. STAC-9&TOEO-9. 2015年10月19日-2015年10月21日.NIMS著者大垣 武坂口 勲大橋 直樹羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:37:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:11:48 +0900