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分子線エピタキシー法により作製したScN薄膜のSc/N比依存性
(Sc/N flux ratio dependence of the ScN films prepared by molecular beam epitaxy)

STAC-9&TOEO-9. 2015.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-02-14 11:37:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:11:48 +0900

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